Instrumen terbaru dalam siri Scientific ZSX, ZSX Primus mengikuti tradisi untuk memberikan hasil yang tepat pada masanya dengan kebolehpercayaan, fleksibiliti dan kemudahan yang tiada tandingan yang sesuai dengan pelbagai cabaran makmal hari ini. Dengan pengalaman saintifik terus melampaui jangkaan pengguna, ZSX Primus menjadi pilihan utama untuk semua produk sinar-X.

Instrumen terbaru dalam siri Scientific ZSX, ZSX Primus mengikuti tradisi untuk memberikan hasil yang tepat pada masanya dengan kebolehpercayaan, fleksibiliti dan kemudahan yang tiada tandingan yang sesuai dengan pelbagai cabaran makmal hari ini. Dengan pengalaman saintifik terus melampaui jangkaan pengguna, ZSX Primus menjadi pilihan utama untuk semua produk sinar-X.
ZSX Primus fleksibel dalam menganalisis sampel kompleks. Tiub cahaya tingkap ultra nipis 30μm untuk memastikan kepekaan analisis elemen ringan. Pakej pemetaan yang paling canggih boleh mengesan homogeniti dan campuran. ZSX Primus lengkap untuk menghadapi cabaran makmal abad ke-21.

Ciri-ciri:

• Julat Analisis: Be-U

• Kawasan yang lebih kecil

• Analisis Mikrokawasan

• Reka bentuk gambar di bawah

• Tingkap tipis 30 μm

• Mapping: Pengedaran unsur

• He Seal: Bilik sampel sentiasa dalam persekitaran vakum

ZSX Primus

Rigaku ZSX Primus menyediakan pengukuran kuantitatif yang cepat untuk unsur-unsur atom utama dan sekunder dari beryllium (Be) hingga uranium (U) dengan pelbagai sampel - dengan piawaian minimum.

Analisis unsur yang kuat dan fleksibel

Sebagai instrumen terbaru dalam siri Rigaku ZSX, ZSX Primus meneruskan tradisi menyediakan hasil yang tepat pada masanya dan lancar untuk memenuhi sebarang cabaran makmal hari ini dengan kebolehpercayaan, fleksibiliti dan kemudahan penggunaan yang luar biasa.

Prestasi Z rendah dengan pemetaan dan analisis pelbagai titik

Dengan prestasi dan fleksibiliti yang luar biasa untuk menganalisis sampel yang paling kompleks, ZSX Primus mempunyai tiub 30 mikron, yang merupakan tiub tetingkap terminal paling tipis dalam industri untuk mengesan unsur spektrum yang sangat rendah (Z rendah). Menggabungkan pakej ujian yang canggih untuk mengesan keseragaman dan inklusi, ZSX Primus memudahkan penyelidikan sampel secara terperinci untuk memberikan wawasan analitik yang tidak mudah didapati dengan kaedah analisis lain. Analisis berbilang titik yang tersedia juga membantu menghapuskan kesilapan sampel dalam bahan yang tidak seragam.

Parameter asas SQX menggunakan perisian EZ-scan

Imbasan EZ membolehkan pengguna menganalisis sampel yang tidak diketahui tanpa setelan terlebih dahulu. Ciri penjimatan masa hanya dengan beberapa klik tetikus dan masukkan nama sampel. Dengan menggabungkan perisian parameter asas SQX, ia boleh memberikan hasil XRF yang paling tepat dan pantas. SQX boleh membetulkan semua kesan matriks secara automatik, termasuk tumpang tindih garis. SQX juga boleh membetulkan kesan rangsangan sekunder optoelektron (unsur cahaya dan ultraringan), suasana yang berbeza, kekotoran dan saiz sampel yang berbeza. Menggunakan perpustakaan sepadan dan analisis imbasan yang sempurna boleh meningkatkan ketepatan.

Ciri-ciri

• Analisis unsur dari Be ke U

• Kawasan kecil dan ruang makmal yang terhad

• Analisis mikroskopik untuk menganalisis sampel sehingga 500 μm

• Reka bentuk bawah tiub dioptimumkan untuk serbuk cecair dan longgar

• 30μm tiub memberikan prestasi unsur ringan yang cemerlang

• Topografi / pengedaran unsur fungsi pemetaan

• Kedetep helium bermakna peranti optik sentiasa dalam keadaan vakum

•