WeifangHAST Tekanan Tinggi Peti Ujian Penuahan Percepatan:Nama Bahasa Inggeris Highly Accelerated Stress Test Chamber digunakan untuk mensimulasikan persekitaran suhu tinggi cip dan tekanan tinggi lembab dalam masa tertentu untuk menjalankan ujian penuaan yang dipercepatkan untuk memeriksa kebolehpercayaan dan hayat cip dalam masa yang paling singkat, sehingga meningkatkan kualiti dan kebolehpercayaan produk.

► Tekanan pertama industri boleh mencapai julat ujian 4KG,

► Reka bentuk pintu kotak automatik, butang kawalan pintu kotak dibuka, dilengkapi dengan perlindungan tekanan,

► Terbina dalam algoritma kawalan PID untuk memastikan ketepatan suhu, kelembapan dan tekanan nilai,

► Serasi dengan ujian pemanasan basah berterusan (HAST) dan pemanasan tekanan tinggi (PCT) untuk wap tekanan tinggi yang tidak tepu,

Memenuhi piawaian ujian：

AEC Q101 (cip kelas kenderaan)

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997 Ujian Alam Sekitar Elektronik Bahagian 2: Kaedah Ujian Cx: Panas basah berterusan wap tekanan tinggi yang tidak tepu

Ujian persekitaran IEC60068-2-66-1994. Bahagian 2-66: Kaedah ujian. Ujian Cx: Panas lembab keadaan stabil

Hayat offset suhu dan kelembapan kitaran JESD22-A100

JESD22-A101 Suhu keadaan stabil, kelembapan / tekanan bias, ujian hayat (hayat tekanan bias suhu dan kelembapan)

JESD22-A102 ujian penguapan tekanan tinggi (mempercepatkan penembusan anti-kelembapan)

JESD22-A108 Suhu, voltan bias dan hayat kerja

JESD22-A110 HAST ujian tekanan suhu dan kelembapan yang dipercepatkan tinggi

JESD22-A118 Suhu dan kelembapan tanpa tekanan bias UHAST (uap tegangan tinggi yang tidak tepu tanpa voltan bias)

* Model bukan standard boleh disesuaikan dengan sebarang parameter spesifikasi